Лукьянов Андрей Юрьевич
Меню
EN

Институт физики микроструктур РАН

- филиал Федерального государственного бюджетного научного учреждения "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики им. А.В. Гапонова-Грехова Российской академии наук" (ИФМ РАН)

EN

Институт физики микроструктур РАН

- филиал Федерального государственного бюджетного научного учреждения "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики им. А.В. Гапонова-Грехова Российской академии наук" (ИФМ РАН)

Лукьянов Андрей Юрьевич

Лукьянов Андрей Юрьевич

Старший научный сотрудник отдела технологии наноструктур и приборов, к. ф.-м. н.

Персональные данные

Родился 18 февраля 1967 г. в Горьком. Женат.

Научные интересы

Оптическая диагностика, волоконная оптика, оптическая интерферометрия, лазеры, оптическое приборостроение, фототермическая спектроскопия.

Образование

  • 1984 — 1989 — Радиофизический факультет ННГУ;
  • 2002 — кандидат физико-математических наук (диссертация — «Фототермическиеметоды диагностики конденсированных сред», рук. — Новиков М. А. и Гаврищук Е. М..).

Профессиональная карьера

  • стажёр-исследователь, мнс ИПФ РАН;
  • нс, снс ИФМ РАН.

Избранные публикации

  • Об отражении света от границы киральной гиротропной среды / Лукьянов А. Ю., Новиков М. А., Письма в ЖЭТФ, 51 (11), 591 (1990);
  • Применение сверхчувствительного фототермического детектора для определения ионов металлов в водном растворе методом ион-ПАРной хроматографии / Лукьянов А. Ю., Владыкин Г. Б., Аратскова А. А., Новиков М. А., Яшин Я. И., Журнал физической химии 71 (8), 1497 (1997);
  • Сравнение предельных возможностей некоторых оптических детекторов жидкостной хроматографии / А. Ю. Лукьянов, Г. Б. Владыкин, М. А. Новиков, Я. И. Яшин, Журнал аналитической химии 54 (7), 718 (1999);
  • Сравнение чувствительности термолинзового и фазового (интерференционного) методов фототермической спектроскопии / А. Ю. Лукьянов, М. А. Новиков, ЖТФ 70 (11), 99 (2000);
  • О возможности увеличения пространственного разрешения фототермической микроскопии / А. Ю. Лукьянов, Письма в ЖТФ 26 (24), 43 (2000);
  • Фазовый (интерференционный) фототермической метод для раздельного измерения поверхностного и объёмного поглощения / А. Ю. Лукьянов, А. A. Погорелко, ЖТФ 72 (5), 72 (2002);
  • Количественные измерения оптического поглощения в полированных пластинах ZnS на длине волны 10.6 мкм / А. Ю. Лукьянов, Р. В. Тюкаев, А. А. Погорелко, А. А. Перескоков, Е. М. Гаврищук, Оптика и спектроскопия 94 (1), 41 (2003);
  • Compact photothermal-refractometric detector for high performance liquid chromatography based on a polarization interferometer / Yu. Luk’yanov, S. N. Bendrysheva, M. A. Proskurnin, A. A. Bendryshev, A. I. Elefterov, and O. A. Shpigun, Review of Scientific Instruments 74 (1), 656 (2003);
  • Chromium-containing organometallic self-organized nanomaterials for nonlinear optics / Larisa G. Klapshina, Ilya S. Grigoryev, Tatyana I Lopatina, Vladimir V. Semenov, Georgy A. Domrachev, William E. Douglas, Boris A. Bushuk, Sergei B. Bushuk, Andrey Yu. Lukianov, Andrey V. Afanas’ev, Robert E. Benfield, and Alexey I. Korytin, New J. Chem. 30, 616 (2006);
  • Автоматизированная многоканальная система технологического контроля толщины ленты флоат-стекла в режиме реального времени в горячей зоне печи отжига / П. В. Волков, А. В. Горюнов, А. Ю. Лукьянов, А. Д. Тертышник,. Стекло и керамика 5, 8 (2008);
  • Измерение оптического поглощения пластин поликристаллического CVD-алмаза фазовым фототермическим методом на длине волны 10.6 мкм / А. Ю. Лукьянов, В. Г. Ральченко, А. В. Хомич, Е. В. Сердцев, П. В. Волков, А. В. Савельев, В. И. Конов, Квантовая электроника 38 (12), 1171 (2008);
  • Novel technique for monitoring of MOVPE processes / P. V. Volkov, A. V. Goryunov, V. M. Daniltsev, A. Yu. Luk’yanov, D. A. Pryakhin, A. D. Tertyshnik, O. I. Khrykin, and V. I. Shashkin, Journal of Crystal Growth 310, 4724 (2008);
  • Оптический мониторинг температуры подложки и скорости травления многослойных структур при плазмохимическом травлении / П. В. Волков, А. В. Горюнов, А. Ю. Лукьянов, Д. А. Пряхин, А. Д. Тертышник, В. И. Шашкин, Микроэлектроника 40 (5), 331 (2011);
  • Оптический мониторинг технологических параметров в условиях молекулярно-пучковой эпитаксии / Волков П. В., Горюнов А. В., Лукьянов А. Ю., Тертышник А. Д., Новиков А. В., Юрасов Д. В., Байдакова Н. А., Михайлов Н. Н., Ремесник В. Г., Кузьмин В. Д., ФТП 46 (12), 1505 (2012);

Контактная информация

Тел.: (831) 417−94−96

Возврат к списку