Обратные задачи реконструкции изображений поверхности, томографии и голографии подповерхностных неоднородностей
Меню
EN

Институт физики микроструктур РАН

- филиал Федерального государственного бюджетного научного учреждения "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики им. А.В. Гапонова-Грехова Российской академии наук" (ИФМ РАН)

EN

Институт физики микроструктур РАН

- филиал Федерального государственного бюджетного научного учреждения "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики им. А.В. Гапонова-Грехова Российской академии наук" (ИФМ РАН)

Обратные задачи реконструкции изображений поверхности, томографии и голографии подповерхностных неоднородностей



Разработаны методы реконструкции изображений неоднородностей поверхности, получаемые в сканирующей зондовой микроскопии (туннельной, сканирующей ближнепольной оптической микроскопии (СБОМ), электронной, ОЖЕ), основанные на решении соответствующих уравнений типа двумерной свертки с учетом передаточной функции измерительного прибора (см. в книге: K. P. Gaikovich, Inverse Problems in Physical Diagnostics, New York: Nova Science Publishers Inc., 2004), позволяющие реализовать субапертурную разрешающую способность (рис. 1).

Идея СБОМ была развита в методах ближнепольной томографии и голографии трехмерных подповерхностных неоднородностей (Physical Review Letters 98, 183902, (2007), Physical Review Letters 108, 163902 (2012)), основанных на ближнепольных многочастотных измерениях над поверхностью среды, содержащей неоднородности (рис. 2).

graphite_orig.pnggraphite_restored.png

Рис. 1. Сканирующая туннельная микроскопия пиролитического графита. Слева — исходное изображение (видна половина атомов решетки); справа — результат восстановления (видны все 6 атомов решетки). Вставка — теоретическое распределение электронной плотности элемента решетки.

holography.png

Рис. 2. Ближнепольная подповерхностная голография. Голографическое изображение подповерхностного объекта в виде двух функций x1(y, z), x2(y, z), полученное по данным сканирующих многочастотных СВЧ измерений рассеянного поля над поверхностью среды. 


Возврат к списку