Масс-спектрометрия аллотропных форм углерода
Меню
EN

Институт физики микроструктур РАН

- филиал Федерального государственного бюджетного научного учреждения "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики им. А.В. Гапонова-Грехова Российской академии наук" (ИФМ РАН)

EN

Институт физики микроструктур РАН

- филиал Федерального государственного бюджетного научного учреждения "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики им. А.В. Гапонова-Грехова Российской академии наук" (ИФМ РАН)

Масс-спектрометрия аллотропных форм углерода



Установлено, что состояние гибридизации атомов углерода sp1, sp2, sp3 влияет на спектры кластерных вторичных ионов, измеренных методом вторично-ионной масс-спектрометрии (ВИМС). Выявлен набор кластеров, анализ выхода которых позволяет количественно определять степень гибридизации углеродных структур. Предложенный метод анализа химического состава, в отличие от других, позволяет проводить послойный анализ степени гибридизации с высоким разрешением по глубине.



Возможность количественной оценки состояний гибридизации углерода методом ToF SIMS.

Авторы:

М.Н. Дроздов, Ю.Н. Дроздов, А. И. Охапкин, П. А. Юнин, С. А. Краев — ИФМ РАН

М.А. Лобаев — ИПФ РАН

О.А. Стрелецкий, А.Е. Иешкин — МГУ

А.Б. Толстогузов — UniversidadeNovadeLisboa, Portugal, РГРТУ


Публикации:

1. M.N. Drozdov et al., TOF-SIMS for carbon hybridization state analysis, Carbon 186, 83 (2022) (Q1, IF 9.5)

2. М. Н. Дроздов и др., Анализ углеродсодержащих материалов методом вторично-ионной масс-спектрометрии: содержание атомов углерода в sp2 и sp3 гибридных состояниях, Письма в ЖТФ 46 (6), 38 (2020).

3. М. Н. Дроздов и др., Новый подход к анализу фазового состава углеродсодержащих материалов методом времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии, Письма в ЖТФ 45 (2), 50 (2019).

Возврат к списку