Метод задающей маски для создания планарных сверхпроводящих структур
Меню
EN

Институт физики микроструктур РАН

- филиал Федерального государственного бюджетного научного учреждения "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики им. А.В. Гапонова-Грехова Российской академии наук" (ИФМ РАН)

EN

Институт физики микроструктур РАН

- филиал Федерального государственного бюджетного научного учреждения "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики им. А.В. Гапонова-Грехова Российской академии наук" (ИФМ РАН)

Метод задающей маски для создания планарных сверхпроводящих структур



Разработан метод задающей маски на основе аморфного оксида церия для создания планарных сверхпроводящих структур на основе эпитаксиальных пленок YBa2Cu3O7-d. При осаждении YBa2Cu3O7-d на подложке в локальных окнах маски формируются сверхпроводящие элементы, а на поверхности маски — изолирующие области. Изготовлены сверхпроводящие мостики с Тс ~ 90 К и плотностью критического тока до 4×106 A/cm2 при 77 К, джозефсоновские контакты на бикристаллических подложках с плотностью критического тока до 9×104 A/cm2.

Авторы

А.Е. Парафин, Д. В. Мастеров, С. А. Павлов, П. А. Юнин, Л. С. Ревин, А. Л. Панкратов, А. В. Чигинев, А. М. Клушин, Е. Е. Пестов, Е. В. Скороходов — ИФМ РАН

Публикации

1.      Письма в ЖТФ, т. 42, вып. 11, с. 82−90 (2016)

2.      Supercond. Sci. Technol., 30, 025007 (2017)

3.      ФТТ, т. 59, вып. 11, с. 2113−2116 (2017)

4.      ФТТ, т. 59, вып. 11, с. 2117−2122 (2017)

5.      ФТТ, т. 60, вып. 11, c. 2100−2104 (2018)

6.      Supercond. Sci. Technol., 31, 045002 (2018)

7.      IEEE Transactions On Applied Superconductivity, 28, 1100505 (2018)


Возврат к списку